ISO/AWI 23131-3

Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.

Тезис

This document uses ellipsometric measurements and their analysis to specify the method for the determination of the layer thickness d of a transparent layer and the optical (refractive index n) or dielectric (real part ε1) constants/functions based on the transparent single layer model within a spectral region, for which k = 0 applies.

Общая информация

Текущий статус
: В стадии разработки

Этап
: Регистрация новой рабочей темы в программе работ ТК/ПК [20.00]
Версия
: 1
Технический комитет :
ISO/TC 107
RSS обновления