ISO 22493:2014
p
ISO 22493:2014
64932
недоступно на русском языке

Текущий статус : Опубликовано (Hа стадии пересмотра)

ru
Формат Язык
std 1 129 PDF + ePub
std 2 129 Бумажный
  • CHF129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.

ISO 22493:2014is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of ISO 22493:2014 are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.

Preview 

Вы можете ознакомиться с данным стандартом в нашей онлайн-библиотеке (OBP)

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2014-04
    : Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
  •  : 2
  • ISO/TC 202/SC 1
    37.020  01.040.37 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)