État actuel : Publiée (En cours d'examen)

Le dernier examen de cette norme date de 2019. Cette édition reste donc d’actualité.
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Résumé

La présente Norme Internationale spécifie une méthode de mesurage de l'épaisseur des revêtements minces à haut pouvoir réfléchissant (jusqu'à 2 µm), basée sur le principe de Fizeau d'interférométrie à faisceaux multiples. La méthode décrite ne peut pas être appliquée aux revêtements en émail vitrifié.

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Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 1976-11
    Stade
    : Norme internationale en cours d'examen systématique [90.20]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 4
  • Comité technique :
    ISO/TC 107
  • RSS mises à jour

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