ISO 23729:2022
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ISO 23729:2022
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Résumé

This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration of AFM topography images dilated by finite probe size. The three-dimensional shape of the probe apex is extracted by image reconstruction using suitable reference materials. This document is applicable to the reconstruction of AFM topography images of solid material surfaces.

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Informations générales

  •  : Publiée
     : 2022-07
    : Norme internationale publiée [60.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 9
    71.040.40 
  • RSS mises à jour

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