Norme internationale
IEC/TR 63258:2021
Nanotechnologies — Lignes directrices relatives à l'utilisation de l'ellipsométrie pour évaluer l'épaisseur des films à l'échelle nanométrique
Numéro de référence
IEC/TR 63258:2021
Edition 1
2021-03
Norme internationale
Prévisualiser
p
IEC/TR 63258:2021
75422
Indisponible en français
Publiée (Edition 1, 2021)

IEC/TR 63258:2021

IEC/TR 63258:2021
75422
Format
Langue
CHF 40
Convertir les francs suisses (CHF) dans une autre devise

Résumé

IEC TR 63258:2021 is a Technical Report focused on the practical protocol of ellipsometry to evaluate the thickness of nanoscale films. This document does not include any specification of the ellipsometers, but suggests how to minimize the data variation to improve data reproducibility.

Informations générales

  •  : Publiée
     : 2021-03
    : Norme internationale publiée [60.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 229
    07.120 
  • RSS mises à jour

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)