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Résumé

This document is intended to aid the operators of X-ray photoelectron spectrometers in their analysis of typical samples. It takes the operator through the analysis from the handling of the sample and the calibration and setting-up of the spectrometer to the acquisition of wide and narrow scans and also gives advice on quantification and on preparation of the final report.

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Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2019-08
    Stade
    : Norme internationale publiée [60.60]
  • Edition
     : 2
  • Comité technique :
    ISO/TC 201/SC 7
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS mises à jour

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9
Industrie, innovation et infrastructure

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