Résumé
ISO 11952:2014 specifies methods for characterizing and calibrating the scan axes of scanning-probe microscopes for measuring geometric quantities at the highest level. It is applicable to those providing further calibrations and is not intended for general industry use, where a lower level of calibration might be required.
Informations générales
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État actuel: AnnuléeDate de publication: 2014-05Stade: Annulation de la Norme internationale [95.99]
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Edition: 1
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Comité technique :ISO/TC 201/SC 9ICS :71.040.40
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Cycle de vie
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Actuellement
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Révisée par
PubliéeISO 11952:2019
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