Résumé
ISO 11505:2013 describes a glow discharge optical emission spectrometric (GD-OES) method for the determination of the thickness, mass per unit area and chemical composition of surface layer films.
It is limited to a description of general procedures of quantification of GD-OES and is not applicable directly for the quantification of individual materials having various thicknesses and elements to be determined.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2012-12Stade: Norme internationale à réviser [90.92]
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Edition: 1
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Comité technique :ISO/TC 201/SC 8ICS :71.040.40
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ISO/DIS 11505
Analyse chimique des surfaces — Modes opératoires généraux pour le profilage en profondeur compositionnel quantitatif par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
ISO/DIS 11505
ISO/DIS 11505
87870
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CHF
63
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