Informations
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Secrétariat: JISC
Manager du comité: -
Président(e) (jusqu'à fin 2029):Dr Satoshi Gonda
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Responsable de programmes techniques ISO [TPM]:Responsable éditorial ISO [EM]:
- Date de création: 1991
Domaine des travaux
Normalisation dans le domaine de l'analyse chimique des surfaces. L'analyse chimique des surfaces comprend des techniques d'analyse où les faisceaux d'électrons, d'ions, d'atomes ou de molécules neutres, ou de photons sont incidents sur le matériau de l'échantillon et où des électrons, des ions, des atomes ou molécules neutres, ou des photons diffusés ou émis, sont détectés. Elle comprend également des techniques par balayage des surfaces à l'aide de sondes et détection des signaux liés à ces surfaces.
A l'exclusion :
- de la miscroscopie électronique à balayage qui est du domaine des travaux de l'ISO/TC 202.
Note:
Les techniques actuelles d'analyse chimique des surfaces permettent d'obtenir des données analytiques pour des régions proches d'une surface (généralement à moins de 20 nm) et des données analytiques en fonction de la profondeur peuvent être obtenues par des techniques d'analyse des surfaces sur des profondeurs plus importantes.
Liens utiles
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Programme technique
Projets de travail et nouveaux projets préliminaires -
Plans d'action
Plans d'action pour examen public -
Espace de travail
Documents de travail (compte utilisateur nécessaire) -
Applications électroniques ISO
Outils TI pour l'élaboration des normes -
Documents publics
Parcourir les documents rendus accessibles par ce groupe
Ce comité contribue avec 10 normes auxObjectifs de développement durable suivants :
Référence | Titre | Type |
---|---|---|
ISO/TC 201/SC 1 | Terminologie | Sous-comité |
ISO/TC 201/SC 2 | Procédures générales | Sous-comité |
ISO/TC 201/SC 3 | Gestion et traitement des données | Sous-comité |
ISO/TC 201/SC 4 | Profilage d'épaisseur | Sous-comité |
ISO/TC 201/SC 6 | Spectrométrie de masse des ions secondaires | Sous-comité |
ISO/TC 201/SC 7 | Spectroscopies d'électrons | Sous-comité |
ISO/TC 201/SC 8 | Spectroscopie à décharge lumineuse | Sous-comité |
ISO/TC 201/SC 9 | Microscopie par sonde à balayage | Sous-comité |
ISO/TC 201/SC 10 | Analyse par réflectométrie de rayons X et par fluorescence de rayons X | Sous-comité |
ISO/TC 201/SG 1 | Caractérisation des nano-matériaux | Groupe de travail |
ISO/TC 201/SG 2 | Analyse de la surface des matériaux énergétiques | Groupe de travail |
ISO/TC 201/WG 4 | Caractérisation des surfaces des biomatériaux | Groupe de travail |
ISO/TC 201/WG 5 | Analyse de l'interface optique | Groupe de travail |
Comités en liaison vers le ISO/TC 201
Les Comités ci-dessous peuvent accéder aux documents du ISO/TC 201:
Référence | Titre | ISO/CEI |
---|---|---|
IEC/TC 113 | Nanotechnologies relatives aux appareils et systèmes électrotechnologiques | IEC |
ISO/IEC JTC 3 | Technologies quantiques | ISO/IEC |
ISO/TC 107 | Revêtements métalliques et autres revêtements inorganiques | ISO |
ISO/TC 172/SC 5 | Microscopes et endoscopes | ISO |
ISO/TC 202 | Analyse par microfaisceaux | ISO |
ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
Comités en liaison depuis le ISO/TC 201
ISO/TC 201 peut accéder aux documents des Comités ci-dessous :
Référence | Titre | ISO/CEI |
---|---|---|
IEC/TC 113 | Nanotechnologies relatives aux appareils et systèmes électrotechnologiques | IEC |
ISO/TC 150 | Implants chirurgicaux | ISO |
ISO/TC 172/SC 5 | Microscopes et endoscopes | ISO |
ISO/TC 202 | Analyse par microfaisceaux | ISO |
ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
Date | Mois | Lieu | TC/SC | Note |
---|---|---|---|---|
13 | Septembre 2024 | La Rochelle (France) | ISO/TC 201/SC 6 | |
7 | Octobre 2024 | Virtuel () | ISO/TC 201/SC 10 | |
14-16 | Novembre 2024 | Eulji-ro (Korea, Republic of) | ISO/TC 201 |
* Information définitive mais réunion pas encore convoquée
** Provisoire
ISO/TC 201 - Secrétariat
JISC [Japon]
1-2-3 Ninomiya,
Tsukuba
Ibaraki 305-0051
Japon