Resumen
Describes profiles and the general structure of contact (stylus) instruments for measuring surface roughness and waviness. Specifies the properties of the instrument which influence profile evaluation. Replaces the first edition of ISO 3274:1975 and ISO 1880:1979.
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Informaciones generales
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Estado: PublicadoFecha de publicación: 1996-12Etapa: Norma Internacional para revisar [90.92]
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Edición: 2Número de páginas: 13
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Comité Técnico :ISO/TC 213ICS :17.040.30
- RSS actualizaciones
Ciclo de vida
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Anteriormente
RetiradaISO 1880:1979
RetiradaISO 3274:1975
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Ahora
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00
Preliminar
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10
Propuesta
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20
Preparación
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30
Comité
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40
Consulta
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50
Aprobación
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60
Publicación
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90
Revisión
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95
Retirada
Correcciones / Modificaciones
PublicadoISO 3274:1996/Cor 1:1998
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00
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Será reemplazada por
En desarrolloISO/DIS 25178-601
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