Sobre
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Secretaría: JISC
Responsable de comité: -
Presidente/a (hasta el final 2024):Ms Laura Depero
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Responsable de programa técnico de ISO [TPM]:Responsable editorial de ISO [EM]:
- Fecha de creación: 2016
Alcance
Standardization of methods for instrument specification, instrument calibration, instrument operation, data acquisition, data processing, and data analysis in the use of X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis for surface chemical and structural analysis.
Enlaces rápidos
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Programa de trabajo
Borradores y nuevos elementos de trabajo -
Área de trabajo
Documentos de trabajo (se requiere cuenta de usuario) -
Aplicaciones electrónicas de ISO
Herramientas de TI que apoyan el proceso de desarrollo de normas
Este comité contribuye con 4 normas a los siguientes Objetivos de Desarrollo Sostenible:
Comités de enlace de ISO/TC 201/SC 10
ISO/TC 201/SC 10 pueden acceder a los documentos de los comités que aparecen a continuación:
| Referencia | Título | ISO/IEC |
|---|---|---|
| ISO/TC 147 | Water quality | ISO |
| ISO/TC 202 | Microbeam analysis | ISO |
| ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
ISO/TC 201/SC 10 - Secretaría
JISC [Japan]
Japan National Committee for Standardization of Surface Chemical Analysis
#202 Belcom Tsukuba Building
1-2-3 Ninomiya,
Tsukuba
Ibaraki 305-0051
Japan
1-2-3 Ninomiya,
Tsukuba
Ibaraki 305-0051
Japan